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) t5 c' {6 n5 N! Z0 D: B5 d. v你有没有听说过一些CCIE考生曾经苦诉说，考试的失败并不是在于他们自身的过失？ 如果你刚刚开始备考CCIE，我敢打赌，你一定会听到过这种抱怨，而我相信他们的这些抱怨一定也在你在复习备考前困扰着你。 4 l/ c' s0 h5 W" A0 Y. k7 L% v5 j
当然出现这种考试失利，情有可原。所以我想借此机会与大家探讨一些考试注意事项，以便将总结失利的考试的一些教训。 9 w5 u" v! o5 _- [
有些情况下考试失败确实不是考生的责任，但在大多数情况下，失败的原因可能由于低效或无效的应试策略。正如上一篇的文章“专家思维”中提到，时间管理和细节注重是考试中两个最难以应付、最隐性的考试难点... ! {5 s* |! W" u2 |* v( o9 J* M% u/ t
假设你已经对考试有了万全的准备，而且对考试充满着信心，精通考纲中大部分的技术性考点。你知道自己不知道的内容并且知道哪里可以快速地找到可靠的相关信息。你可以以专家级的表现，在给定的时间内精准高效地完成技术考题。 3 ]5 ~+ M' _/ H" I
有人可能会认为这样就一定可以通过考试了。因而将考试失败归因为考题用词模棱两可，考官未给予恰当的支持，测试环境（工作站，键盘，鼠标，软件工具，界面，设备等）不适应 ，室温不适或考场噪音，椅子不适，或其他任何不在考生能控制之内的其他状况。 & W* u3 j$ S# q" R( `
当然，再次声明，我并不是说这些情况一定不会发生。但对于一些非技术性考试技巧，例如如何缓解考试压力、如何管理考试时间、掌控考试风险及处理考点细节等情况你有考虑或准备过吗？如果你想通过考试，这些非技术性的考试技巧能够帮助你建立一套高效的考试实战策略，值得你花点时间来研究。 + j. N8 u& h8 t( N% X
就像准备任何项目一样，你需要将所有可能发生的事情都纳入到你的计划中，而不仅仅是单看一些纯技术考点，对吗？
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CCIE R&S V5.0考试是由四个独立的测试模块所组成：笔试（WR），和三个实验室考试模块：troubleshooting (TS), diagnostic (DIAG) and configuration (CFG)。这些测试模块每个都有自己的一套设计属性，我们先不讨论每一个细节，下表展示了四个模块之间的明显对比。
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考试结果目的：如以上所讨论的，这是这个考试模块的最终目标。所有四个模块只有“合格/不合格”两个结果，实验室考试还有附加约束。我建议考生应以通过考试为目标，而其非试图比其他考生获得更好的成绩，甚至是以取得满分为目标！如果想要获得认证，把自我满足感先放在一边，着眼于通过考试，而不是取得满分。
: @/ T4 O5 W) P1 I9 [% Y逻辑算分上的限制：这是指应用于计算分数的附加规定。笔试和实验室考试都有一个分数线（即及格线），而只有实验室考试在需要达到的最低分数这个限制。不仅实验考试总成绩必须达到或超过实验室考试的及格线，全部”三个模块”的分数也必须达到或超过各自的”实验模块”的最低分数线。因此，考生可弥补较弱的模块，如用CFG中的强项弥补弱势的TS能力。如果总分（所有”三个模块”的分数之和）达到或超过了”实验室考试”的及格线，再加上如果每个模块的分数达到或超过了该”模块”的最低分数，那么考生就是及格了。如果任何模块的分数没有达到它的最低分数，那么整个考试也是不合格的，无论考生在其它模块中取得多少分数。这一点超级重要的。 4 a: [ n' @7 W( c
考生在考试开始时可以看到所有的实验考题：笔试不允许来回答题。只可以答下一题，不能返回上一题。因此，在开始的笔试考试时，考生将无法看到所有的题目。而在实验室模块考试时，所有的题目在任何实验室模块开始时就可见。因此，考生可以挑选考题并决定以什么顺序来答题。这也是常被忽视的另一重要的考试属性。
" ]5 X+ q. |6 l* R! v6 e( \考生可以看到题目的得分值：事先知道哪些考题相对于其他考题的分值这对决定如何应对考题，先选择哪些考题来答是很重要的。即使某个考题的得分值与其题目的难度并不一致，但这将极有可能帮助你安排答题的先后次序。
: u0 A( R& W9 u+ N& z; T1 u考题的得分机会：在CCIE R&S V5.0考试模块的所有考题都是以“两分法”为准计分，考生的得分结果要么是满分（该题目的分数值）要么就是没有分（零分） 。没有“多点计分”的考题，取得一少部分的分值是不可能的。因此，为了获得该题目的分数，考生必须答对该考题的所有要求。如你只能答对一少部分的要求，你不会取得的任何分数。CCIE R&S V5.0的考试模块中没有题目是采用多点计分的方式来算分的。。 ( `1 `; N; s. f/ {: [3 Q n
考试期间可访问设备的控制台：只有TS和CFG模块有提供远程控制台访问权给已运行的设备。笔试和DIAG模块只提供参考文档（例如图片，文字或工具，如流量分析器）。 0 Q; b9 Q3 ^8 e/ l; a- R- L' ]
用于整个考试的拓扑数目：由于笔试和DIAG并不依靠运行的设备，每个项目可使用单独的网络拓扑结构。 TS模块和CFG模块在单一的情况下也一样会依赖于整个考试模块中的单一拓扑结构。
9 B' W# M( Z; f/ ?# b考题相互依存（考题X的答案取决于考题Y的答案）：只有CFG模块中的考题是相互依存的。三层的结果建立在二层的结果之上，所以如果你的二层答题失败，三层的答案正确的可能性非常之小。当我们在设计CFG模块场景及题目要求时，故意设计了这个两个层之间自然依存的自然的技术现象。 但其他三个考试模块的题目是相互独立的。所以在其他模块中TS的第三题答案并不依赖于第二题的答案！
+ Y" d3 e# s! ]0 v2 _可能的解决方案：在笔试和DIAG模块的所有题目都只有一个可能的解决方案;因此，他们的分数是有确定性的，自动化的脚本是非常简单的。而另一方面，TS模块和CFG模块为达到某个结果- 在大部分的情况下- 可以用多种不同的方法来实现。我们面对的挑战是需要尽可能少使用命令行，并且在不违反任何规则或存在额外的限制的情况下找到一个有效的解决方案。 5 C: y0 [1 Y4 N8 P
时间限制：我想不出任何考试中会不涉及到时间的掌握。所以很自然的，在我们的考试中有时间限制。然而，考虑到考试有一定的压力，CCIE R&S V5.0为实验考试引入了灵活性的时间限制。TS模块被设计为两小时内是可完成的内容，而考试系统允许考生使用两个半小时完成TS模块的题目。由于总考试时间仍限于八小时，这个项可额外选择的时间，自动会从CFG模块的考试时间中被抵扣掉。考生可选择是否向CFG模块借30分钟，并把它用在TS模块中。这是一个策略性的决定，考生应该在考试之前仔细考虑是否使用该选项。 DIAG模块的考试时间是固定的30分钟，不能多也不能少。所以没有弹性或策略性决策可做。
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请记住，这些考试设计的特性都可能会发生变化，并且上表适用于当前的2014年8月的CCIE R&S V5.0考试。 ( w7 Z; J* i3 q# q2 l
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